型号 FT-N512
容量 1-512颗芯片
尺寸 L140cm*W120cm*H230cm
工作温度 -40℃~+85℃
产品概述 最高支持512颗颗粒同时测试、宽温测试
支持测试命令类型 基础测试、实验测试、高阶测试(数据保持、抗干扰、自定义)等
支持测试范围可选 起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
已支持闪存协议类型 ONFI/toggle接口颗粒
已支持测试封装规格 BGA152、BGA132(可定制扩展)
已支持测试闪存品牌 Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk等厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒
支持pattern 全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
Operating temperature range Flash寿命预测(预测可P/E次数)、Flash等级定义和Flash分级、数据的保留能力测试、高低温下Flash的稳定性测试
产品参数
型号
FT-N512
容量
1-512颗芯片
尺寸
L140cm*W120cm*H230cm
工作温度
-40℃~+85℃
产品概述
最高支持512颗颗粒同时测试、宽温测试
支持测试命令类型
基础测试、实验测试、高阶测试(数据保持、抗干扰、自定义)等
支持测试范围可选
起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
已支持闪存协议类型
ONFI/toggle接口颗粒
已支持测试封装规格
BGA152、BGA132(可定制扩展)
已支持测试闪存品牌
Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk等厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒
支持pattern
全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
Operating temperature range
Flash寿命预测(预测可P/E次数)、Flash等级定义和Flash分级、数据的保留能力测试、高低温下Flash的稳定性测试
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产品详情

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