型号 FT-N200
容量 1-200颗
尺寸 L185cm*W87.5cm*H183cm
工作温度 -40℃~+85℃
产品概述 可同时测试1~200颗芯片,宽温测试、可同时测25种不同颗粒
支持测试命令类型 基础测试 实验测试 高阶测试(数据保持、抗干扰、自定义)等
支持测试范围可选 起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
已支持闪存协议类型 ONFI/toggle接口颗粒
已支持测试封装规格 BGA152、BGA132(可定制扩展)
已支持测试闪存品牌 Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk等厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒
支持pattern 全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
Operating temperature range 宽温测试、可同时测25种不同颗粒
产品参数
型号
FT-N200
容量
1-200颗
尺寸
L185cm*W87.5cm*H183cm
工作温度
-40℃~+85℃
产品概述
可同时测试1~200颗芯片,宽温测试、可同时测25种不同颗粒
支持测试命令类型
基础测试 实验测试 高阶测试(数据保持、抗干扰、自定义)等
支持测试范围可选
起始测试块数、块间间隔、循环数、测试时间等个性化设置
已支持闪存协议类型
ONFI/toggle接口颗粒
已支持测试封装规格
BGA152、BGA132(可定制扩展)
已支持测试闪存品牌
Micron、Intel、YMTC、Hynix、Toshiba、Sandisk等厂商的SLC、MLC、TLC、QLC类型NAND Flash芯片颗粒
支持pattern
全0,全1,全5,伪随机;棋盘格;字线随机等
Operating temperature range
宽温测试、可同时测25种不同颗粒
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产品详情

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